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薄膜厚度測試儀
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | YODP/亞歐德鵬 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,食品/農產品,化工,農林牧漁,綜合 |
薄膜厚度測試儀 塑料薄膜/薄片自動測厚儀 型號DPCHY-CA
適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
微電腦控制、液晶顯示
菜單式界面、PVC操作面板
接觸式測量
測頭自動升降
自動進樣
手動、自動雙重測量模式
數據實時顯示、自動統計
顯示大值、小值、平均值和統計偏差
可設進樣步距、測量點數、進樣速度等參數
標準接觸面積、測量壓力(非標可選)
顯示大值、小值、平均值和統計偏差
標準量塊標定
RS232接口
網絡傳輸接口支持局域網數據集中管理與互聯網信息傳輸
薄膜厚度測試儀器技術指標
測量范圍:0~2mm;0~6mm,12mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制
進樣步距:0~1000mm
進樣速度:0.1~99.9mm/s
電 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)
凈 重:32kg
可見分光光度計/分光光度計 型號:DP-WFJ7200/7200
儀器型號 DP-WFJ7200/7200
光學系統 單光束,1200條/毫米衍射光柵
波長范圍 325-1000nm
波長精度 ±2nm
波長重復性 1nm
光度范圍 0-125%T, -0.097-1.999A, 0-1999C(0-1999F)
光度精度 ±0.8%T
雜散光 ≤0.5%T在360nm處
帶寬 5nm
穩定性 ±0.004A/h在500nm處
顯示 LED數碼管
數據輸出 串行口
打印機接口 并行口
外形尺寸 470×400×140(mm)
重量 9.5kg
表面式溫度傳感器 溫度傳感器 DP-GWP200-M
指標名稱 | 性能指標 |
被測介質 | 固體表面 |
量 程 | 0~200℃ |
感溫原件 | PT100 |
供電電源 | 無源式 |
輸出信號 | 電阻信號 |
精 度 | A組、B組 |
環境溫度 | -20~65℃ |
相對濕度 | 0~90% RH |
固定方式 | M6螺紋固定/磁鐵式 |
產品材料 | 1Cr18Nⅰ9tⅰ |
引線方式 | Φ3.6mm電纜引出 |
靜態磁滯回線測量儀 回線測量儀 型號:DP-TF-CIA
采用靜態法測量鐵磁材料的特性參數。適合教學。
特點:樣品外置,方便更換比較。具有電腦接口;功能齊備的多媒體教學演示和數據處理軟件,方便教師開設實驗。
1.磁化電流: 0 - ±3A
2.線圈匝數 > 40
3.樣品外置,方便更換。
4.設有過熱保護裝置。
5.可以描繪 磁滯回線、初始磁化曲線、基本磁化曲線 等
6.內含微處理器,程控放大器,
7.通過串口與計算機連接,實時記錄數據和曲線;
8.軟件功能豐富,含原理演示、圖形記錄、數據處理等。
9.程控放大倍數:1 – 1000
10.磁化電流:0 – 3A;
11.測量精度:12位
變溫霍爾效應實驗儀 型號:DP-HT-648
霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-400K溫度范圍內對霍爾系數和電導率的聯合測量,進行半導體導電機制及散射機制的研究,并可確定半導體的一些基本參數,如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質電離能等。
主要技術指標
1.電磁鐵 0-300mT連續可調
2. 勵磁電源 0-5A連續可調 可自動換向 穩定性﹤±0.1%
3. 數字特斯拉計 0-2000mT 三位半數字顯示 分辨率0.001
4. 恒流源輸出 1mA 穩定性±0.1%
5. 數據采集系統霍爾電壓測量小分辨率1uV
6. 溫度變化測量范圍 80-400K
7. 整套儀器由電磁鐵系統、電源控制系統機箱、測量系統主機、恒溫器四部分組成
8. 探頭樣品采用單晶鍺片